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  • 奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率,因此最适用于光学元件与微小的电子部件等产品。

  • 应用了KIF-10A,用于测量光圈数目的测定仪。通过光圈数目与元器的比较, 可简单地短时间内进行测定。因采用非接触的测定方式,不用担心会破坏镜片面以及元器。 是在制造现场的工序测定中不可缺少的新检测工具。

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